ГОСТ 24316-80 УДК 691.32.001.4:006.354 Группа Ж19 Метод определения ...
Веденеева Б.Е. & Судаков В.Б. & Жука С.Я. & Борисов А.А. & Шаркунов С.В. & Магитон А.С. & Чилинаришвили Г.И. & Костии И.И. & Осипов А.Д. & Сапожников Ф.В. (...)
Вопросы астрономии (1)
Forward modeling synsedimentary deformation associated with ...
Phillip G. Resor & Eric A. Flodin
3 ТОТ МОНОКРИСТАЛЛОВ К НАНОСТРУКТУРАМ 60 лет Институту кристаллографии ...
Симонов В.И. & Ковальчук М.В. & Клечковская В.В. & Фейгин Л.А. (...)
Гидрогеология (1)
Методика увеличения эффективности наносейсмического мониторинга
Manfred Joswig
Физика Земли (1)
Получение значимой информации по сейсмическим атрибутам
Kurt Marfurt & Satinder Chopra
Прикладная геодезия. Прикладные применения аэросъемки и фотограмметрии (1)